、激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項性能均優(yōu)于半導體激光器，且成本也遠高于半導體激光器，半導體激光器單向性差的問題，對測試結果的穩(wěn)定性影響很大。

 

　  第二、光電探測器：國內產品采用的光電探測器的種類大同小異，一般就是半環(huán)式、點陣式等，半環(huán)式的優(yōu)勢是能夠以較少的通道數(shù)達到很高的探測精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時可以臨時采取并環(huán)操作，對測試結果影響很小。點陣式屬于比較老的探測器類型，現(xiàn)在用的比較少。

 

　　第三、儀器結構問題：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操作，分體式則是分散系統(tǒng)獨立于測試系統(tǒng)，測試者需要先操作分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導入測試系統(tǒng)進行測試。

 

這樣的缺點是協(xié)同操作性不好，比較重的顆粒容易在管道中沉淀，清洗不便且對測試結果有一定影響，現(xiàn)在整體式結構的儀器是發(fā)展方向，進口產品大都采用整體式結構，國內的產品也慢慢在向整體式結構發(fā)展。

 

 

 

　　第四、光路設計問題：光路設計是激光粒度儀研制的基礎，進口產品的優(yōu)勢不但在制造工藝上，光路的設計水平也是技術先進的標志，國內的廠家現(xiàn)在大都采用簡單的平行光路設計，我們濟南微納公司推出的激光粒度儀產品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進的光路，能夠獲得更寬的散射角，在提高測試精度方面有一定的優(yōu)勢。